分辨率測(cè)試卡

JIMA RT RC-02B分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡

詳細(xì)介紹：

JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)）致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，

用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

JIMA RT RC-02B分辨率測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

圖案布局：L型

線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案,

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

JIMA RT RC-04 X射線分辨率測(cè)試卡

JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡

JIMA RT RC-02B分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

圖案布局：T型 （3-10μm）

I 型 （15-50μm）

線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）

15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

JIMA RT RC-05 X射線分辨率測(cè)試卡, JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

圖案布局：T型

線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,

JIMA分辨率測(cè)試卡,JIMA RT RC-02X射線分辨率測(cè)試卡

JIMA RT CT-01 分辨率測(cè)試卡（專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試）

RT RC-02B 分辨率測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

圖案布局：T型

線/空間尺寸：5種規(guī)格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm

SAG: RT RC-02B,RT RC-02B測(cè)試卡,RC-02B測(cè)試卡,JIMA RT RC-02B,分辨率測(cè)試卡,JIMA X射線分辨率測(cè)試卡